TY - JOUR ID - TI - Optical characteristics of ZnO:Al thin films prepared by magnetron sputtering المحضرة بطريقة الترذيذ المغناطيسيZnO:Alالخصائص البصرية لأغشية AU - Reem Saadi Khaleel AU - . Mustafa Shakir Hashim AU - Najiba Abdulla Hassan PY - 2010 VL - 8 IS - 1 SP - 224 EP - 230 JO - journal of kerbala university مجلة جامعة كربلاء SN - 18130410 AB - Undoped and Al doped ZnO samples with 1.05 wt% of Al were synthesized by magnetron sputtering method. We have studied optical properties of the samples in spectral range (300 – 900)nm.The XRD spectra shows that the films have polycrystalline structure with hexagonal phase. Al impurities do not causes observable action on structure of the films , but it reduce the optical transmittance of ZnO and reduce also optical band gap (Eg) from 3.2 eV to 2.8607 eV . Reflectance, Extinction Coefficient (K0), Absorption Coefficient (α) and Refractive index (n) have higher values for ZnO:Al compared with that for ZnO.

:-بطريقة الترذيذ المغناطيسي. )1.05 wt% غير المشوبة والمشوبة بالالمنيوم بتركيز(ZnO حضرت اغشية. و بينت فحوصات الاشعة السينية(300-900)nmوتمت دراسة الخصائص البصرية في المدى الطيفيان للاغشية تركيب متعدد التبلوروبطور سداسي وان التشويب لم يؤثر على التركيب البلوري وانه . 2.8607 eV الى3.2 eV ادى الى نقصان في النفاذية البصرية للمادة وتقليل قيمة فجوة الطاقة منوكانت قيم كل من الانعكاسية ، معامل الخمود ، معامل الامتصاص ، معامل الانكسار للمادة المشوبة اكبر من تلك لغير المشوبة ER -