research centers


Search results: Found 1

Listing 1 - 1 of 1
Sort by

Article
Effects of annealing temperatures on structural properties of ZnO thin films

Author: Saba Jameel Hasan
Journal: journal of the college of basic education مجلة كلية التربية الاساسية ISSN: 18157467(print) 27068536(online) Year: 2014 Volume: 20 Issue: 84 / علمي Pages: 881-886
Publisher: Al-Mustansyriah University الجامعة المستنصرية

Loading...
Loading...
Abstract

Zinc oxide (ZnO) thin films were grown on glass substrates at 300 using DC magnetron sputtering method. The effects of annealing under various temperatures (350,400) C o for 2 h on the structural properties of ZnO thin films were investigated by X-ray diffractometer. X-ray diffraction analysis revealed that all films have a polycrystalline hexagonal wurtzite crystal structure with the preferentially c-axis oriented normal to the substrate surface. The crystal structure of annealed films did not change considerably, but the peak position(002) and surface grain size increased slightly. The crystallinity levels of the films and other structural parameters were investigated and analyzed.

تم تحضير اغشية اوكسيد الزنك (ZnO) باستخدام طريقة الترذيذ المغناطيسي (DC sputtering) على قواعد زجاجية مسخنة الى درجة ((300 . تم دراسة تأثير التلدين للأغشية المحضرة وبدرجات حرارة مختلفة (350,400) C o لمده ساعتين على الخصائص التركيبية باستخدام حيود الاشعة السينية. اظهرت نتائج حيود الاشعة السينية بان جميع الاغشية متعددة التبلور وذات تركيب سداسي وان المحور (c-axis) عمودي على سطح القاعدة والتلدين لم يغير من التركيب البلوري للغشاء ولكنه سبب في زيادة طفيفة في موقع المستوي (002) و الحجم الحبيبي. وكذلك تم دراسة وتحليل مستوى بلورية الاغشية والمتغيرات التركيبية الاخرى.

Listing 1 - 1 of 1
Sort by
Narrow your search

Resource type

article (1)


Language

Arabic (1)


Year
From To Submit

2014 (1)