research centers


Search results: Found 2

Listing 1 - 2 of 2
Sort by

Article
Deposition Angle Effect on the Optical Properties of Obliquely Deposited (SnTe) Thin Films Prepared by Thermal Evaporation
تأثير زاوية الترسيب على الخواص البصرية لأغشية (SnTe) المرسبة بشكل مائل والمحضرة بطريقة التبخير الحراري

Authors: Raad S.A.Al – Rawie رعد سعيد عبد --- Ahmed I. Jawad احمد ابراهيم جواد
Journal: Journal of College of Education مجلة كلية التربية ISSN: 18120380 Year: 2016 Issue: 1 Pages: 65-77
Publisher: Al-Mustansyriah University الجامعة المستنصرية

Loading...
Loading...
Abstract

The Tin Telluride thin films of obliquely and normal deposited were prepared using thermal evaporation method at pressure of 10-6 torr on glass substrates at room temperature. The optical band gap of films has been determined from the transmission and absorption spectra. The optical band gap of as-grown films has been found to have direct band gap of ~(1.8, 1.62, 1.47) eV for deposition angle θ = (0 ̊ , 40° , 70 ̊ ) respectively. The optical band gap of SnTe thin films decreases with angle of deposition increases.

تم في هذا البحث دراسة الخصائص البصرية لأغشية (SnTe) المحضرة بطريقة الترسيب الحراري الفراغي تحت ضغط (10-6 Torr) على قواعد زجاجية عند درجة حرارة الغرفة وبزوايا ترسيب مختلفة θ=(0°,40°,70°) وبسمك10 nm) (50nm±. وقد تم تحديد فجوة الطاقة المسموحة من أطياف الامتصاصية و النفاذية وان زيادة زاوية الترسيب له تأثير واضح في تقليل النفاذية وزيادة الامتصاصية مع إزاحة نحو الأطوال الموجية الطويلة. أما بالنسبة لفجوة الطاقة المباشرة المسموحة فتقل بين eV (1.8) و eV (1.47) على التوالي عند زيادة زاوية الترسيب بين (70°,0°).


Article
A study of Some Electrical Properties of Te:S Thin Films Deposited at Angle Ө=70o
دراسة بعض الخصائص الكهربائية لاغشية التليريوم الرقيقة المشابة بالكبريت المرسبة بزاوية مائلة700= Ө

Authors: Farah J. Khadum فرح جواد كاظم --- Hanaa S. Sabaa هناء صالح سبع
Journal: Ibn Al-Haitham Journal For Pure And Applied Science مجلة ابن الهيثم للعلوم الصرفة والتطبيقية ISSN: P16094042/ E25213407 Year: 2014 Volume: 27 Issue: 1 Pages: 121-128
Publisher: Baghdad University جامعة بغداد

Loading...
Loading...
Abstract

In this research a study of some electrical properties Of (Te) thin films with(S) impurities of(1.2%) were deposited at( Ө=700)by thermal evaporation technique .The thicknesses of deposited films were (1050 , 1225 , 1400 , 1575 nm) on a glass substrates of different dimensions . From X-ray diffraction spectrum, the films are polycrystalline .A study of (I-V) characteristic for thin films, the measurements of electrical conductivity (σ)and electrical resistance(R )vs. temperature( T) are done. Further a measurement of thermoelectric power, see beck coefficient and activation energies ( Ea, Es) were computed.

في هذا البحث جرى دراسة الخصائص الكهربائية لاغشة S: Teالرقيقة . وكانت نسبة التشويب بمادة الكبريت(S) بحدود ( (1.2%حضرت العينات باستخدام طريقة التبخير الحراري الفراغيعلى شرائح زجاجية لأسماك مختلفة(1575, 1400, 1225, 1050 nm) للعينات .من دراسة حيود الاشعة السينية لاغشية Te:S تبين انها متعددة التبلور . كما قيست التوصيلية الكهربائيةوالمقاومة الكهربائي)R) مقابل درجة الحرارة وكذلك حساب معامل سيبيك ودراسـة خصائص تيار- جهد (I-V) للأغشية المرسبة بزاوية مائلة70º)=θ ) .فضلا عن ذلك حسبت طاقة التنشيط الكهربائية(Ea) وطاقة التنشيط الكهروحرارية (Es) لجميع الاغشية .

Listing 1 - 2 of 2
Sort by
Narrow your search

Resource type

article (2)


Language

Arabic and English (1)

English (1)


Year
From To Submit

2016 (1)

2014 (1)